美国初创公司NEO半导体已经 推出了三种创新的内存设计方法 ,可能会重新定义行业在性能和能效方面的标准。新的3D X-DRAM系列包括1T1C、3T0C和1T0C单元结构——将3D NAND架构的元素与金属氧化物材料相结合。
根据该公司的说法,3D X-DRAM的关键优势在于其芯片密度——高达512 Gb,约为传统DRAM的十倍。这一飞跃得益于垂直堆叠内存单元,类似于3D NAND的制造方式。使用IGZO(铟镓锌氧化物)晶体管进一步提升了性能,实现了仅10纳秒的数据访问速度,同时还降低了功耗。
该技术最引人注目的好处之一是其减轻电力需求的潜力。由于延长的电荷保持时间——高达450秒——新的内存单元需要更少的刷新周期。这对于数据中心和低功耗设备尤为重要。3T0C变体完全消除了电容器,专为人工智能工作负载设计,而1T1C单元仍与现有的DRAM标准兼容。值得注意的是,制造过程仅进行了最小的调整,便于与当前生产线的集成。
在这一阶段,该项目仍处于模拟阶段,预计到2026年将推出原型样品。NEO半导体计划在2025年5月的IEEE国际内存研讨会上展示该技术。到目前为止,三星和SK海力士等主要参与者尚未公开回应这一公告。然而,随着对高性能内存需求的上升——尤其是针对人工智能和复杂计算——NEO的解决方案可能很快会引起行业的重大关注。
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